PCB绝缘电阻测试对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。 从当今的地球、市场环境来看,省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的,新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。 简介:离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验 项目 规格?性能?其他 筺 体 型式 ECM-100/40-n (n:Channel数) ECM-100/100-n (n:Channel数) 筺体型式 40CH型(较大4计测组合) 100CH型(较大10计测组合) 筺体寸法 265W×330.3D×405H(突起部除外) 417.4W×330.3D×405H(突起部除外) 消费电力 大约70VA(4计测组合实装时) 大约130VA(10计测组合实装时) 重量 大约16kg(4计测组合实装时) 大约25kg(10计测组合实装时) 使用电源 AC100V 50/60Hz 计测 组合 计测Channel数 10CH 计测电阻值范围 2kΩ~10TΩ DCbias印加 电压范围 2范围 (1.0~30.0V,30.1~300.0V) 电压范围设定 1组(5CH) 电压级别设定 Channel个别 设定分解能 0.1V 设定精度 ±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V 较大输出电流 700μA/CH DCbias计测 计测范围 2范围(0~33V、0~330V) 计测精度 ±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V 计测分解能 0.1V~(整数+小数点以下1行表示) AD转换器 24bits⊿∑AD转换器/CH 计测速度 16msec/10CH 电流计测 计测方式 CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 计测范围 5范围(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA) 计测范围设定 CHANNEL个别* 或者 自动范围 计测精度 ±0.3%(F.S.) 计测分解能 1pA~(有効数字4行表示) AD转换器 24bits⊿∑AD转换器/CH 计测速度 16msec/100CH C P U 组合 制御Channel数 5~100CH(5Channel単位) 数据收录 试验制御単位 1组(5CH) 试验设定小时 1分~9999小时 收录间隔(定期) 1分~60分 收录间隔(ECM发生时) 16msec 记录媒体 Compact flashcard 其他 主PC通信机能 LAN接触口×1 环境试验机通信机能 RS-232C接触口×2 外部输入1 接点输入×4 (联动装置,紧急停止制御可) 外部输入2 电压输入(1-5V)×2,电流输入(4-20mA)×2 (温度?湿度记录可) 自动校正 bias输出补正,异常leak电流检测 计测线 TRIAXIAL线 (耐热温度:200度,被膜材质:特氟隆树脂) 详细请联系:深圳市世纪天源仪器有限公司